泰克Tektronix

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泰克TektronixBERTScope CR分析仪

泰克TektronixBERTScope CR分析仪

特点

优势

数据速率范围高达 28.6 Gb/s提供针对下一代 I/O 连续数据速率覆盖,包括 PCIe 3.0、10GBASE-KR、16xFC、25 和 28G CEI 以及 100GBASE-LR-4 和 ER-4。
锁相环 (PLL) 带宽 (BW)、抖动转函 (JTF) 和峰值的独立控制、测量和显示。提供准确的“黄金 PLL”响应,用于发射机抖动一致性测试以及接收机灵敏度压力测试校准。 为设备检定提供完整的灵活性。
时钟恢复输入均衡可在高 ISI 信号上进行时钟恢复,而不影响被测的数据流。 已恢复的时钟可支持其他分析,包括“纯净眼图”、向信号应用 FIR 滤波以及 BER 测试。
边沿密度测量即刻确定被测信号的标记密度。
抖动频谱分析和频率选通的集成抖动测量通过对抖动峰值处幅度和频率的光标测量,提供抖动与频率关系的 200 Hz 至 90 MHz 显示。 频率选通的集成抖动测量 PCIe 2.0 一致性测试。
可选的 24 MHz PLL 带宽满足 USB 3.0、6 G SATA 和 PCIe-Gen 3 的 JTF 带宽要求。
广泛的子速率(已恢复)时钟输出。常需用于设备参考时钟。